Pokrycie rastrowe i przyrost punktów

Pomiar densytometryczny pola pełnego (apli) oraz pola rastrowego pozwala na określenie procentowego pokrycia. Przydatny staje się tu wzór Murray’a-Davies’a.

Ciąg dalszy wpisu Pokrycie rastrowe i przyrost punktów

Kontrast względny

Parametr ten stanowi miarę odwzorowania tonów na odbitce i jest zdefiniowany następującym wzorem:

K=(Da-Dr)/ Da

gdzie:
Da - gęstość optyczna pola pełnego;
Dr - gęstość optyczna pola rastrowego.

Liczyć każdy może…

Załączam tu mały programik do liczenia różnych rzeczy. Wygrzebałem go po latach to może się komu przyda. Program wymaga standardowych bibliotek Visual Basic 4.0.

Okna programu Poligraf 1.0

Okna programu Poligraf 1.0

Pomiar płyt CtP

Właściwe przygotowanie form drukowych jest ważnym procesem pozwalającym na osiągnięcie poprawnej odbitki. Wieloletnie doświadczenie z kontrolą jakości w systemach CtF (pomiary densytometryczne diapozytywów/negatywów, paski kontrolne kopiowania) poparte pojawieniem się norm i metodologii naturalnie zaowocowało chęcią kontynuacji tych praktyk w systemach CtP. Na pierwszy rzut oka płyta analogowa nie wiele się różni od cyfrowej jednak stosowane obecnie technologie warstw kopiowych wymagają specjalnego podejścia. Również metody kontroli jakości znane z systemów CtF nie dadzą się zawsze przenieść bezpośrednio do świata CtP. Odmienność materiałów jak również stosowanych metod obrazowania (różne rodzaje układów naświetlających) a także końcowej obróbki płyt powodują, że kontrola poprawności przygotowania form drukowych CtP może rządzić się odmiennymi prawami.

Ciąg dalszy wpisu Pomiar płyt CtP

I Konferencja - Warsztaty Zarządzania Barwą

21 listopada odbyła się Konferencja o powyższym tytule. Ponad 300 osób wysłuchało prezentacji przedstawicieli różnych firm na tematy związane z szeroko pojętym zarządzaniem barwami.

Ciąg dalszy wpisu I Konferencja - Warsztaty Zarządzania Barwą